代如成  (高级实验师)

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学位：博士

   
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一种纳米薄膜的测量方法及装置

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所属单位：中国科学技术大学

发明设计人：宫俊波,代如成,王中平,丁泽军

专利说明：发明

申请号：201310743478.9

发明人数：5

是否职务专利：否

公开日期：2014-04-23

授权日期：2017-01-11

第一作者：张增明

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