一种用于磁光测量系统的磁铁装置
点击次数：
所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：韦先涛,代如成,朱玲,谢宁,王中平,张增明
专利说明：实用新型
申请号：201920378864.5
发明人数：7
是否职务专利：否
公开日期：2019-10-22
授权日期：2019-10-22
第一作者：张权
电子邮箱：
学位：博士
一种用于磁光测量系统的磁铁装置
点击次数：
所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：韦先涛,代如成,朱玲,谢宁,王中平,张增明
专利说明：实用新型
申请号：201920378864.5
发明人数：7
是否职务专利：否
公开日期：2019-10-22
授权日期：2019-10-22
第一作者：张权