DeepEIT: Deep Image Prior Enabled Electrical Impedance Tomography
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影响因子：20.4
DOI码：10.1109/tpami.2023.3240565
发表刊物：IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
第一作者：Dong Liu
合写作者：Junwu Wang, Qianxue Shan, Danny Smyl,邓建松, Jiangfeng Du
论文类型：期刊论文
通讯作者：Dong Liu
学科门类：理学
文献类型：J
卷号：45
期号：8
页面范围：9627-9638
ISSN号：0162-8828
是否译文：否
发表时间：2023-02-01
收录刊物：SCI
发布期刊链接：https://doi.org/10.1109/tpami.2023.3240565
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