SDEIT: Semantic-Driven Electrical Impedance Tomography
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影响因子：7.2
DOI码：10.1016/j.neunet.2025.108492
发表刊物：Neural Networks
第一作者：Dong Liu
合写作者：Yuanchao Wu, Bowen Tong,邓建松
论文类型：期刊论文
通讯作者：Dong Liu
论文编号：108492
学科门类：理学
文献类型：J
卷号：197
ISSN号：0893-6080
是否译文：否
发表时间：2025-12-19
收录刊物：SCI
发布期刊链接：https://doi.org/10.1016/j.neunet.2025.108492
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