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专利
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基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其装置
  • 所属单位:中国科学技术大学
  • 发明设计人:廖光煊,秦俊,范维澄,伍小平
  • 专利说明:发明
  • 申请号:02113133.3
  • 发明人数:5
  • 是否职务专利:
  • 公开日期:2003-12-31
  • 授权日期:2006-04-19
  • 第一作者:王喜世