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一种X射线相位衬度成像方法

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所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：魏文彬,高昆,王秋平,田扬超,陆亚林
专利说明：发明公开
申请号：201910274368.X
发明人数：6
是否职务专利：否
公开日期：2019-08-16
第一作者：吴朝

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