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郭国平
郭国平
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专利
电子元器件低温电学性能测试装置及方法
发布时间:2021-07-24点击次数:
所属单位: 中国科学技术大学
发明设计人: 路腾腾,李臻,雒超
专利说明: 发明
申请号: 201710979449.0
发明人数: 4
是否职务专利:
公开日期: 2018-01-16
第一作者: 郭国平