郭国平
郭国平
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专利
电子元器件低温电学性能测试装置
发布时间：2021-07-24点击次数：
所属单位：
中国科学技术大学
发明设计人：
路腾腾,李臻,雒超
专利说明：
实用新型
申请号：
201721350534.2
发明人数：
4
是否职务专利：
否
公开日期：
2018-07-24
授权日期：
2018-07-24
第一作者：
郭国平