发展新的同步光调制方法，与计算成像技术相结合，探索高精度、高速束流截面及束团纵向分布的诊断新方法，解决同步光利用率低以及测量精度与测量速度难以同时兼顾的问题。拟通过复杂掩模编码技术，实现对宽光谱、多空间频率同步光的直接调制，利用彩色相机或单像素成像系统，一次性捕获多波长干涉信息或高灵敏度光强分布，进而通过计算反演高效提取束团截面尺寸参数。现已完成专用波动光学数值仿真工具开发，并在此基础上完成多色空间干涉仪的原理验证实验，完成了彩色相机与单像素探测器的理论建模与仿真优化。

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