中国科学技术大学李传锋--中文主页-- 一种测量级联辐射过程中最上能级非均匀展宽的装置

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一种测量级联辐射过程中最上能级非均匀展宽的装置

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所属单位：中国科学技术大学

发明设计人：孙永南,韩永建,李传锋,郭光灿

专利说明：发明

申请号：201510560493.9

发明人数：5

是否职务专利：否

公开日期：2015-11-25

授权日期：2017-11-28

第一作者：邹扬

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李传锋 (教授)