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    雒超

    • 特任副研究员
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    • 学位:博士

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    电子元器件低温电学性能测试装置

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    所属单位:中国科学技术大学

    发明设计人:路腾腾,李臻,雒超

    专利说明:实用新型

    申请号:201721350534.2

    发明人数:4

    是否职务专利:

    公开日期:2018-07-24

    授权日期:2018-07-24

    第一作者:郭国平