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联系方式：
86-551-63603194
学位：
博士
专利
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专利
一种X射线相位衬度成像方法
所属单位：
中国科学技术大学
发明设计人：
魏文彬,高昆,王秋平,田扬超,陆亚林
专利说明：
PCT申请
申请号：
PCT/CN2019/081508
发明人数：
6
是否职务专利：
否
第一作者：
吴朝
下一条：
一体化太赫兹产生与聚焦装置及近场太赫兹扫描系统
