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专利
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具有多次反射真空紫外光电离源的质谱分析仪
  • 所属单位:中国科学技术大学
  • 发明设计人:王健,邱克强,朱治祥,刘成园
  • 专利说明:发明
  • 申请号:201310443607.2
  • 发明人数:5
  • 是否职务专利:
  • 公开日期:2014-01-08
  • 授权日期:2015-09-09
  • 第一作者:潘洋