中国科学技术大学秦熙--中文主页-- 一种测量纳米器件输运性质的系统和方法

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一种测量纳米器件输运性质的系统和方法

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所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：秦熙,肖庆,程光磊,杜江峰
专利说明：发明申请
申请号：201911133287.4
发明人数：5
是否职务专利：否
第一作者：赵宇曦

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