Design of Two-Dimention Interferometer for Measuring Electron Beam
Transverse Sizes
- DOI码：10.4028/www.scientific.net/AMR.403-408.2732
- 发表刊物：MEMS, NANO AND SMART SYSTEMS, PTS 1-6
- 第一作者：唐雷雷
- 通讯作者：唐雷雷
- 论文编号：000310764701206
- 卷号：403-408
- 页面范围：2732-+
- ISSN号：1022-6680
- 是否译文：否
- 发表时间：2011-11-30
- 收录刊物：ISTP
