一种基于多层介质膜上银纳米线电场模式的宽场超分辨显微成像装置
点击次数：
所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：张斗国,王茹雪,王沛,明海
专利说明：发明
申请号：201810767089.2
发明人数：5
是否职务专利：否
公开日期：2018-11-23
第一作者：向益峰
电子邮箱：
学位：博士
一种基于多层介质膜上银纳米线电场模式的宽场超分辨显微成像装置
点击次数：
所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：张斗国,王茹雪,王沛,明海
专利说明：发明
申请号：201810767089.2
发明人数：5
是否职务专利：否
公开日期：2018-11-23
第一作者：向益峰