一种纳米尺度的微波磁场测量方法
点击次数：
所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：张一幸,王鹏飞,李瑞,王成杰,秦熙,石发展,王亚
专利说明：发明
申请号：201810421286.9
发明人数：8
是否职务专利：否
公开日期：2018-10-12
第一作者：杜江峰
电子邮箱：
学位：博士
一种纳米尺度的微波磁场测量方法
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所属单位：中国科学技术大学
发明设计人：张一幸,王鹏飞,李瑞,王成杰,秦熙,石发展,王亚
专利说明：发明
申请号：201810421286.9
发明人数：8
是否职务专利：否
公开日期：2018-10-12
第一作者：杜江峰