基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其装置
点击次数:
所属单位:中国科学技术大学
发明设计人:廖光煊,秦俊,范维澄,伍小平
专利说明:发明
申请号:02113133.3
发明人数:5
是否职务专利:否
公开日期:2003-12-31
授权日期:2006-04-19
第一作者:王喜世
基于激光片光成像的粒子场全场测量方法及其装置
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所属单位:中国科学技术大学
发明设计人:廖光煊,秦俊,范维澄,伍小平
专利说明:发明
申请号:02113133.3
发明人数:5
是否职务专利:否
公开日期:2003-12-31
授权日期:2006-04-19
第一作者:王喜世