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  • 王自强 ( 高级实验师 )

    的个人主页 http://faculty.ustc.edu.cn/wangziqiang/zh_CN/index.htm

  •   高级实验师
专利 当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 专利
一种基于光学俘获的颗粒粒径检测方法
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所属单位:中国科学技术大学
发明设计人:李迪,李银妹,钟敏成,王自强
专利说明:发明
申请号:201410685965.9
发明人数:5
是否职务专利:否
公开日期:2015-02-25
授权日期:2017-02-22
第一作者:周金华
版权所有 ©2020 中国科学技术大学
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