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工程师
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- 学位:硕士
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一种大高宽比微结构的光学检测方法
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所属单位:中国科学技术大学
发明设计人:魏文彬,熊瑛,侯双月,田扬超
专利说明:发明申请
申请号:201911178380.7
发明人数:5
是否职务专利:否
第一作者:刘刚