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  • 叶宏 ( 教授 )

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  •   教授
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Identification of the dissociative and kick-out diffusion mechanisms of Zn diffusion in GaAs by photoluminescence analysis
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DOI码:10.1016/j.mseb.2015.03.005
发表刊物:MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-ADVANCED FUNCTIONAL SOLID-STATE MATERIALS
第一作者:叶宏
通讯作者:叶宏
论文编号:000355353000001
卷号:197
页面范围:1-4
ISSN号:0921-5107
是否译文:否
发表时间:2015-06-30
收录刊物:SCI
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