中国科学技术大学张增明--中文主页-- Thickness Dispersion of Surface Plasmon of Ag Nano-thin Films: Determination by Ellipsometry Iterated with Transmittance Method

张增明

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Thickness Dispersion of Surface Plasmon of Ag Nano-thin Films: Determination by Ellipsometry Iterated with Transmittance Method

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DOI码：10.1038/srep09279

发表刊物：SCIENTIFIC REPORTS

通讯作者：张增明

论文编号：000351360700002

卷号：5

ISSN号：2045-2322

是否译文：否

发表时间：2015-03-23

收录刊物：SCI

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