中国科学技术大学郑津津--中文主页-- 13、Chen, YM, JJ Zheng, HJ Zhou, ZJ Zhang, YC Tian, G Liu, XG Li, and LG Shen (2007). Pattern transfer error correction of certain layer in SU-8 deep UV lithography，IEEE International Conference on Information Acquisition 2007，pp332-335. July9-11, Jeju Island, Korea. EI 收录

郑津津

教授博士生导师硕士生导师
教师英文名称：Zheng Jinjin
电子邮箱：
学历：研究生(博士)毕业
学位：博士
毕业院校：英国伯明翰大学

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13、Chen, YM, JJ Zheng, HJ Zhou, ZJ Zhang, YC Tian, G Liu, XG Li, and LG Shen (2007). Pattern transfer error correction of certain layer in SU-8 deep UV lithography，IEEE International Conference on Information Acquisition 2007，pp332-335. July9-11, Jeju Island, Korea. EI 收录

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是否译文：否

上一条：12、郑津津，孙培培，周洪军，沈连婠 (2007)，基于多层切片的三维B样条曲面重构。Progress of Geometric Design and Computing in China (GDC) 2007，pp231-235，2007年7月兰州，电子工业出版社。ISBN 978-7-12104611-7

下一条：14、Liu, R, JJ Zheng, HJ Zhou, YC Tian, G. Liu, and LG Shen (2007). A Generalized Dill Exposure Model for Negative Thick Photoresist, IEEE International Conference on Information Acquisition 2007，pp285-291. July9-11, Jeju Island, Korea. EI 收录