陈宇航  (副教授)

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学位：博士

   
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一种同时表征微纳米成像测量仪器多种性能的方法

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所属单位：中国科学技术大学

发明设计人：黄文浩

专利说明：发明

申请号：201611127233.3

发明人数：2

是否职务专利：否

公开日期：2017-05-31

第一作者：陈宇航

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