洪义麟

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学位:学士

专利

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一种平面基底变间距光栅的线密度测试系统及测试方法

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所属单位:中国科学技术大学

发明设计人:林达奎,刘颖,陈火耀,洪义麟

专利说明:发明公开

申请号:201910501496.3

发明人数:5

是否职务专利:

公开日期:2019-08-27

第一作者:刘正坤