李晓光  (教授)

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原子层沉积系统

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ALD-T100H原子层沉积系统


 

ALD-T100H是专门为先进集成电路工艺和特殊纳米涂层工艺研制的高温型、快速原子层沉积系统。系统结构紧凑、集成度高,可实现全流程自动化控制,可在平面及三维结构材料上沉积致密纳米薄膜,广泛应用于high-K栅极绝缘层、铁电材料、OLED封装层、太阳能电池钝化层、锂离子电池、光学元件镀膜、MEMS等诸多领域。

仪器尺寸:1050*750*1100mm

真空度:<3.0×10-3Torr

基片尺寸:4inch并兼容以下尺寸

基片加热温度:400

样品温度均匀性:±1

温度控制精度:±0.1

前驱体源数量:6

膜厚均匀性:≤±1%

循环时间:<4s/cycle

颗粒度:0.3 um以上颗粒增加值<30

沉积材料种类:HfO2ZrO2A2O3TiO2ZnOMgOSnO2SiO2Pt及其复合薄膜等


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