中国科学技术大学王思慧--中文主页-- Zhang W, Zhu B, Wang S, Fan L, Fang J, Bian B, Li W, Wang Y. Surface characterization and secondary electron yield measurement of the Ti-Zr-V films deposited on laser-etched copper[J]. Journal of Instrumentation, 2022, 17: T08003.

王思慧 ( 副研究员 )
的个人主页 http://faculty.ustc.edu.cn/wangsihui/zh_CN/index.htm
副研究员硕士生导师

论文成果当前位置：中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Zhang W, Zhu B, Wang S, Fan L, Fang J, Bian B, Li W, Wang Y. Surface characterization and secondary electron yield measurement of the Ti-Zr-V films deposited on laser-etched copper[J]. Journal of Instrumentation, 2022, 17: T08003.

点击次数：
是否译文：否

上一条：徐晓鹏, 马文静, 尉健亚, 葛晓琴, 范乐, 洪远志, 夏小维, 黄涛, 王思慧. 激活后的NEG薄膜在氖气保护下的应用研究[J]. 真空科学与技术学报, 2023, 43(10): 819-824.

下一条： Wang S, Zhu B, Gao Y, Shu X, Wei W, Zhang W, Wang Y. On the synergy manipulation between the activation temperature, surface resistance and secondary electron yield of NEG thin films[J]. Applied Surface Science, 2022, 578: 152101.