陈宇航  (副教授)

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学位:博士

   
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Effects of temperature and humidity on atomic force microscopy dimensional measurement

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影响因子:2.117

DOI码:10.1002/jemt.22509

发表刊物:MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE

通讯作者:陈宇航

论文编号:000356811900004

卷号:78

期号:7

页面范围:562-568

ISSN号:1059-910X

是否译文:

发表时间:2015-06-30

收录刊物:SCI

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