Detection of subsurface cavity structures using contact-resonance atomic force microscopy
点击次数：
影响因子：2.286
DOI码：10.1063/1.4981537
发表刊物：JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
通讯作者：陈宇航
论文编号：000399903200013
卷号：121
期号：15
ISSN号：0021-8979
是否译文：否
发表时间：2017-04-21
收录刊物：SCI