陈宇航  (副教授)

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Double-hole cantilevers for harmonic atomic force microscopy

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影响因子:1.48

DOI码:10.1063/1.4991073

发表刊物:REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

通讯作者:陈宇航

论文编号:000414174000066

卷号:88

期号:10

ISSN号:0034-6748

是否译文:

发表时间:2017-09-30

收录刊物:SCI

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