陈宇航  (副教授)

电子邮箱:

联系方式:0551-63600214

学位:博士

   
当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Cantilever optimization for applications in enhanced harmonic atomic force microscopy

点击次数:

影响因子:2.904

DOI码:10.1016/j.sna.2017.01.003

发表刊物:SENSORS AND ACTUATORS A-PHYSICAL

通讯作者:陈宇航

论文编号:000394630500007

卷号:255

页面范围:54-60

ISSN号:0924-4247

是否译文:

发表时间:2017-03-01

收录刊物:SCI

上一条: Double-hole cantilevers for harmonic atomic force microscopy

下一条: Spectral Analysis of Irregular Roughness Artifacts Measured by Atomic Force Microscopy and Laser Scanning Microscopy