Spectral Analysis of Irregular Roughness Artifacts Measured by Atomic Force Microscopy and Laser Scanning Microscopy
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影响因子：3.414
DOI码：10.1017/S1431927614013385
发表刊物：MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
第一作者：陈宇航
通讯作者：陈宇航
论文编号：000347233400007
卷号：20
期号：6
页面范围：1682-1691
ISSN号：1431-9276
是否译文：否
发表时间：2014-11-30
收录刊物：SCI