陈宇航  (副教授)

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学位：博士

   
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Atomic force microscopy force-distance curves with small amplitude ultrasonic modulation

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影响因子：1.33

DOI码：10.1002/sca.21211

发表刊物：SCANNING

通讯作者：陈宇航

论文编号：000359372000007

卷号：37

期号：4

页面范围：284-293

ISSN号：0161-0457

是否译文：否

收录刊物：SCI

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