中国科学技术大学陈宇航--中文主页-- Image contrast reversals in contact resonance atomic force microscopy

当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Image contrast reversals in contact resonance atomic force microscopy

点击次数：

DOI码：10.1063/1.4908037

发表刊物：AIP ADVANCES

通讯作者：陈宇航

论文编号：000350545500016

卷号：5

期号：2

ISSN号：2158-3226

是否译文：否

发表时间：2015-01-31

收录刊物：SCI

上一条： Atomic force microscopy force-distance curves with small amplitude ultrasonic modulation

下一条： Displacement measurement with nanoscale resolution using a coded micro-mark and digital image correlation

陈宇航 (副教授)