陈宇航  (副教授)

电子邮箱:

联系方式:0551-63600214

学位:博士

   
当前位置: 中文主页 >> 科学研究 >> 论文成果

Displacement measurement with nanoscale resolution using a coded micro-mark and digital image correlation

点击次数:

影响因子:1.113

DOI码:10.1117/1.OE.53.12.124103

发表刊物:OPTICAL ENGINEERING

通讯作者:陈宇航

论文编号:000347725200053

卷号:53

期号:12

ISSN号:0091-3286

是否译文:

发表时间:2014-11-30

收录刊物:SCI

上一条: Image contrast reversals in contact resonance atomic force microscopy

下一条: A comparative experimental study on sample excitation and probe excitation in force modulation atomic force microscopy