中国科学技术大学陈宇航--中文主页-- A comparative experimental study on sample excitation and probe excitation in force modulation atomic force microscopy

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A comparative experimental study on sample excitation and probe excitation in force modulation atomic force microscopy

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DOI码：10.1088/0957-0233/24/2/025403

发表刊物：MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY

通讯作者：陈宇航

论文编号：000313750300040

卷号：24

期号：2

ISSN号：0957-0233

是否译文：否

发表时间：2013-01-31

收录刊物：SCI

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陈宇航 (副教授)