Improving dimensional measurement from noisy atomic force microscopy images by non-local means filtering
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影响因子：1.33
DOI码：10.1002/sca.21246
发表刊物：SCANNING
第一作者：陈宇航
通讯作者：陈宇航
论文编号：000374302400003
卷号：38
期号：2
页面范围：113-120
ISSN号：0161-0457
是否译文：否
收录刊物：SCI