Focused Ion Beam Fabrication and Atomic Force Microscopy Characterization of Micro/Nanoroughness Artifacts With Specified Statistic Quantities
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影响因子：2.196
DOI码：10.1109/TNANO.2014.2311103
发表刊物：IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY
第一作者：陈宇航
通讯作者：陈宇航
论文编号：000336091000025
卷号：13
期号：3
页面范围：563-573
ISSN号：1536-125X
是否译文：否
发表时间：2014-04-30
收录刊物：SCI