功率电子器件,宽禁带半导体,氮化镓,微纳制造,传感器,器件设计,物理/电路级测试表征,可靠性
- 1. Z. Han, S. Yang*, M. Wang, C. Chu and S. Long, "Achieving 205 cm2V-1s-1 Inve.
- 2. X. Xie, S. Yu, X. Tang, R. Chen, G. Xu, S. Long, S. Yang*, "kV-Class Vertical.
- 3. J. Du, C. Sun, Q. Tang, B. Jang, Z. Dong, X. Wu, S. Yang*, "An Efficient Swit.
- 4. J. Du, H. Lin, D. Hou, S. Long, S. Yang*, "Ultrafast junction temperature map.
- 5. X. Xie, M. Wang, Z. Wang, Z. Wang, C. Chu, G. Xu, S. Long, S. Yang*, "Enhance.
- High Voltage Blocking Ⅲ-Ⅴ Semiconductor Device(已授权),US11588024B2,
- 一种具有抗单粒子效应能力的平面型氮化镓功率器件(已授权),ZL202310599805.1,
- 一种抗单粒子辐照的GaN HEMT(已授权),ZL202411613679.1,
- 一种具有抗单粒子辐照能力的Ⅲ族氮化物器件(已授权),ZL202411613677.2,
- 垂直型III-V族氮化物功率器件终端结构及制作方法(已授权),ZL201710219954.5,